主要特点

可测试高/低温的PCB铜箔，减少试样成本；

 可在PCB钻孔、剪裁、电镀等工序前进行相关铜箔来料检验；

 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试；

 可用于电镀铜后的面铜厚度测试。

性能

 利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量，符合EN14571测试标准，

 强大的数据统计分析功能，包括数据记录、平均数、标准差和上下限提醒功能，

 数据显示单位：mil、μm、oz，

 操作界面：英文、简体中文，

 仪器无需特殊规格标准片，可测量蚀刻后的线型铜箔厚度，线宽可低至204μm（8mils），

 厚度测量范围：

化学铜：0.25--12.7μm（0.01--0.5mils）

电镀铜：2.0--254μm（0.1--10mils），
   仪器再现性：0.08μm at 20μm（0.003 mils at 0.79 mils），

 SRP-T1探针：可自行替换，更换后无需校准即可使用；

具有照明功能，有助于线型铜箔检测时准确定位。

硬件特征

 测试数据通过USB2.0高速传输，可保存为Excel格式文件，

 仪器为工厂预校准，

 客户可根据不同应用灵活设置仪器，

 测量模式：固定测量、连续测量、自动测量模式，

 仪器可以储存9690条检测结果（测试日期时间可自行设定），

 仪器使用普通AA电池供电。